IV-5000系列 - 广州殷迪科技有限公司
芯片及引线键合检测

IV-5000系列

芯片/引线键合检测 —— 高速型

产品详情

  • 易操作 | 多级别权限,全自动料盒检测流程一键启动
  • 易维护 | 创新双轨设计,引线框架卡料检测功能
  • 高兼容 | 高精度与高稳定性兼备,UPH大幅提升
  • 高定制 | 100% 自主研发,深度满足定制化需求
  • 快节拍 | 灵活集成多元光学模块双相机,实时飞拍,3D

技术规格 1 条规格

系统外壳尺寸 1500×1300×1700mm(W×D×H)

缺陷检测 7 项

芯片键合
芯片键合
引线键合
引线键合
芯片墨点
芯片墨点
球点检测
球点检测
引线追踪
引线追踪
3D线弧高度测量
3D线弧高度测量
多层级用户管理
多层级用户管理

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